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AFM è l'acronimo di Atomic Force Microscopy, Microscopia a Forza Atomica, o di Atomic Force Microscope, Microscopio a Forza Atomica. L'AFM fu sviluppato dopo i lavori iniziali sul STM - Scanning Tunneling Microscope, Microscopio a Scansione a Effetto Tunnel. Più tardi, l'AFM ha dato origine alle sue varianti, come la Microscopia a Forza Magnetica (MFM, Magnetic Force Microscopy), la Microscopia a Forza Laterale (LFM, Lateral Force Microscopy), la Microscopia a Scansione Nearfield (SNOM, Scanning Nearfield Optical Microscopy (SNOM), etc.

Ci sono molte tecniche che normalmente utilizzano lo stesso metodo dell'AFM di mantenere la sonda vicino alla superficie, anche se spesso differiscono nel tipo di proprietà che misurano.

Tutte queste tecniche vengono collettivamente chiamate Microscopia a Scansione di Sonda (SPM, Scanning Probe Microscopy).