Domande frequenti

Domande frequenti a proposito della microscopia a forza atomica

Questa sezione proviene dal sito afmhelp, ed è pubblicata con il gentile permesso del suo autore, Peter Eaton, che è anche autore del libro Atomic Force Microscopy (2010), 256 pp, OUP. ISBN: 9780199570454

Lista degli articoli nella categoria Domande frequenti
Titolo
1. Come funziona un AFM
2. Che differenza c'è tra AFM e SPM? Che cosa sono gli STM, SFM, etc?
3. Che tipo di campioni possono essere analizzati con un AFM? Quali sono le applicazioni dell'AFM?
4. Posso vedere atomi individuali con un AFM?
5. Posso fare scansioni in liquido?
6. Ci vuole ancora tanto? Ci siamo?
8. Come preparo il mio campione di particolato (cioè una polvere)?
7. Quanto può essere grande il mio campione?
9. Che concentrazione (di particelle) devo usare?
10. Il mio campione deve essere pulito?
11. Che cosa faccio con questi strani file?
12. E se volessi analizzarli io?
13. Nella mia immagine ci sono ovunque delle strane strisce orizzontali
14. Nella mia immagine ci sono delle strane linee verticali diagonali, o delle oscillazioni nella curva di forza.
15. Che cosa sono le immagini di Fase/Ampiezza/Frizione?
16. Come uso un AFM?
17. Che cosa è il setpoint? Devo cambiarlo?
18. Come devo ottimizzare i parametri di feedback?
19. Quali tipi di artefatto possono trovarsi nelle immagini AFM e come posso evitarli?
20. Ho bisogno di una misura accurata delle altezze, devo calibrare il mio strumento?