Il reticolo di diffrazione TDG01 serve per la calibrazione submicrometrica di microscopi a scansione in X e Y.
Descrizione del reticolo
Struttura: |
- wafer di vetro |
Tipo di pattern: |
monodirezionale (nelle direzioni X e Y) |
Altezza del pattern: |
> 55 nm fornisce immagini con un buon contrasto |
Geometria: |
creste parallele |
Periodo: |
278 nm (3600 periodi/mm) |
Accuratezza |
±1nm |
Dimensioni: |
diametro 12,5 mm, spessore- 2,5 mm |
Area efficace: |
diametro centrale: 9 mm. |
Fig.1 il reticolo TDG01