NTEGRA Prima è un sistema multifunzionale per svolgere i compiti più comuni nel campo della microscopia a scansione di sonda (Scanning Probe Microscopy). 

Informazioni generali

NTEGRA Prima è un sistema multifunzionale per svolgere i compiti più comuni nel campo della microscopia a scansione di sonda (Scanning Probe Microscopy). Il sistema permette di utilizzare oltre 40 metodi di misura, permettendo di analizzare proprietà chimiche e fisiche di una superficie con grande precisione e risoluzione. E`inoltre possibile svolgere esperimenti in aria, in liquido o in ambienti controllati.

L'elettronica di nuova generazione permette di utilizzare tecniche di analisi ad alta frequenza (fino a 5MHz). Questa caratteristica è fondamentale per lavorare nei modi ad alta frequenza e per usare cantilever ad alta frequenza.*

Ci sono molti metodi di scansione implementati in NTEGRA Prima: scansione muovendo il campione, scansione muovendo la punta e scansione duale. Per questo motivo il sistema è ideale per lo studio di piccoli campioni con risoluzione estremamente elevata (a livello atomico o molecolare), così come per grandi campioni e per scansioni fino a 100x100x10 µm.

Il sistema DualScan (unico di NT-MDT) permette di studiare campioni ancora più grandi, 200x200 µm in X e Y e 22 µm in Z, che può essere utile, per esempio, per studiare cellule viventi o componenti MEMS.

I sensori ad anello chiuso integrati su tre assi misurano il reale spostamento dello scanner e compensano le inevitabili imperfezioni dovute alla non-linearità dei materiali piezoceramici, al creep e all'isteresi. I sensori usati da NT-MDT hanno i livelli di rumore più bassi, permettendo di lavorare con il controllo ad anello chiuso anche su aree di scansione molto piccole (fino a 10x10 nm). Questo è particolarmente utile per svolgere nano-manipolazioni e microlititografia. NTEGRA Prima ha un sistema ottico integrato con una risoluzione di 1 µm, che permette di osservare i processi di scansione in tempo reale.

Per la sua architettura aperta, le funzionalità di NTEGRA Prima possono essere fortemente estese: misure magnetiche speciali con campi magnetici esterni, esperimenti ad alta temperatura, SNOM, spettroscopia Raman, etc.

Applicazioni

Dati tecnici

Tipo di scansione		Scansione muovendo il campione	Scanning muovendo la punta*
Area del campione		fino a 40 mm di diametro,  fino a 15 mm di spessore	Fino a 100 mm di diametro, fino a 15 mm di spessore
Peso del campione		Fino a 100 g	Fino 300 g
Posizionamento XY del campione		5x5 mm
Risoluzione del posizionamento		Risoluzione leggibile - 5 um Sensibilità - 2 um
Range di scansione		100x100x10 um 3x3x2,6 um Meno di 1x1x1 um	100x100x10 um 50x50x5 um
		Fino a 200x200x20 um**(DualScanTM mode)
Non linearita, XY (con i sensori ad anello chiuso)		0.1%	0.15%
Livello di rumore, Z (RMS in bandwidth 1000 Hz)	Con i sensori	0.04 nm (tipico),  0.06 nm	0.06 nm (tipico),  0.07 nm
	Senza i sensori	0.03 nm	0.05 nm
Livello di rumore, XY*** (RMS in bandwidth 200 Hz)	Con i sensori	0.2 nm (tipico),  0.3 nm (XY 100 um)	0.1 nm (tipico),  0.2 nm (XY 50 um)
	Senza i sensori	0.02 nm (XY 100 um), 0.001 nm (XY 3 um)	0.01 nm (XY 50 um),
Errore di stima delle dimensioni lineari (con i sensori)		± 0.5%	± 1.2%
Sistema ottico	Risoluzione otticha	1 um (0.4 um opzionale, NA 0.7)	3 um
	Campo inquadrato	4.5-0.4 mm	2.0-0.4 mm
	Zoom continuo	Disponibile	Disponibile
Isolazione dalle vibrazioni	Attiva	0.7-1000 Hz
	Passiva	sopra 1 kHz