Pensato per una ampia serie di misure AFM/STM automatizzate con un microscopio video integrato.

 Caratteristiche principali

• Livello di automazione a grado industriale
• Livelli di rumore e drift termico eccezionali
• Scanner veloce con anello chiuso a basso rumore in XYZ
• Risoluzione atomica di routine
• Oltre 60 tecniche SPM nella versione base
• Zoom continuo dai millimetri ai nanometri
• Integrato con la nuova tecnica di HybriD Mode™

Il massimo dell'automatizzazione

Il microscopio a forza atomica NEXT ha un sistema motorizzato di posizionamento del campione integrato con un microscopio ottico ad alta risoluzione, con uno zoom continuo e la messa a fuoco motorizzati. Ma l'automatizzazione non è solo motorizzazione. I potenti algoritmi software Nova PX rimuovono il gap tra le immagini ottiche e quelle AFM, fornendo uno zoom continuo da una visione panoramica del campione fino alla risoluzione atomica.

Poiché tutti i movimenti sono correlati all'immagine ottica, NEXT fornisce l'autofocus, l'allineamento rapido del cantilever, la visione panoramica ottica e scansioni multiple fino a un range di 5×5 mm.

Caratteristiche dell'automatizzazione

• Riconoscimento del cantilever e allineamento automatico del laser in aria e in liquido
• Autofocus
• Visione panoramica ottica fino a 7×7mm con risoluzione di 2um
• Posizionamento Point-and-click motorizzato del campione
• Procedura di ingaggio automatica con controllo dell'anello di feedback
• Routine automatizzata MultiScan™ su un'area di 5x5mm con stitching dei fotogrammi adiacenti
• Configurazione automatica del software per tutti i modi avanzati
• Mouse 3D per controllare i movimenti del campione e del microscopio ottico

Tecniche di misura

Elettronica avanzata

Il potente e flessibile Ultra Controller PX permette di lavorare con AFM ad alta qualità con piccoli rumori di deflessione (~25 fm/√Hz), basso rumore di pilotaggio ad alta tensione (rumore < 1mV/600V) e misure multi-frequenza con cinque amplificatori di lock-in.

Software flessibile e facile da usare

Il software Nova PX contiene dei settaggi predefiniti e algoritmi intelligenti per una veloce configurazione di NEXT in tutte le tecniche avanzate. Insieme alla veloce configurazione il software premette ai ricercatori di avene un'illimitata flessibilità sperimentale.

Misure topografiche

I modi in contatto e AM-AFM  (semi-contatto e non-contatto) sono disponibili per misure topografiche, con la possibilità di vedere molti segnali importanti.

Analisi delle curve

L'analisi delle curve di varia natura (relazioni tra la distanza e la forza, l'ampiezza, la frequenza, la fase o la corrente, ma anche le relazioni tra il bias e la forza o la corrente) forniscono una grande quantità di informazioni sul campione.     

Studi elettrici

NEXT permette una vasta serie di tecniche di misura elettriche, tra cui la microscopia a forza elettrostatica (EFM) con modulazione di ampiezza e di frequenza, la Kelvin Probe Microscopy, con modulazione di ampiezza o di fase, le misure delle relazioni dC/dZ e dC/dV, misure quantitative delle proprietà dielettriche e immagini spreading resistance.

Misure STM

Misure STM possono essere fatte nei modi a corrente costante o ad altezza costante. La spettroscopia STM fornire le relazioni  I(V), I(Z), dI/dV, e dI/dZ.

Proprieta magnetiche

Per le misure MFM, sono stati implementati il modo a due passi con il tracking della topografia del campione e il modo ad altezza costante nel sistema di riferimento dello scanner.

Nanomeccanica

NEXT permette di fare molti lavori in questo campo. Le misure quantitative di durezza e di modulo di Young sono disponibili insieme alle punte di tipo Berkovich e cantilever AFM commerciali, a seconda delle proprietà del campione.

Applicazioni

Con la sua vasta varietà di tecniche e modi di misura, NEXT puo essere usato risolvere molti problemi scientifici e tecnologici. La scansione a risoluzione atomica è in grande richiesta nella ricerca fisiochimica di superfici solide, di nanostrutture e di nanomateriali.

L'analisi della morfologia superficiale fornisce i parametri di rugosità e di l'anisotropia della superficie del campione, insieme alla distribuzione delle particelle adsorbite e alle caratteristiche geometriche delle particelle.

Tecniche dedicate di scansione leggera sono disponibili per lo studio di polveri, materiali soffici, strutture biologiche, biomolecole, biopolimeri e per fare misure in liquido.

Una posizione peculiare nelle applicazioni di NEXT appartiene alla scienza dei materiali. Include lo studio delle caratteristiche di adesione, dei fattori di attrito, della resistenza all'usura dei rivestimenti, dei moduli elastici, della durezza, etc.

In NEXT sono anche implementate molte misure di caratteristiche elettriche (resistenza locale, potenziale superficiale, capacità, parametri fotovoltaici), che permettono l'analisi di varie strutture funzionali, componenti di micro e nano elettronici e anche di elettronica molecolare, oltre a sensori di vario tipo.

NEXT offre grandi possibilità di studi ferroelettrici, in termini di struttura dei domini, proprietà di isteresi e caratteristiche termiche.