Hiden Analytical

Hiden Analytical

Un sistema di analisi dei gas specializzato per l'analisi di eventi transienti rapidi

Misura la concentrazione di gas e vapori in tempo reale

Il HPR-20 QIC TMS è uno spettrometro di massa configurato per l'analisi di eventi rapidi a pressione vicino a quella atmosferica. È ideale per esperimenti in cui si cambiano rapidamente i gas ed è dotato dell'interfaccia di campionamento di 0,9 metri quarzata QIC.

Un sistema per la determinazione della chimica intra-catalisi dei reattori

Misura in tempo reale la concentrazione di gas in un monolite di catalisi

Spaci-MS permette di determinare le specie e ottenere il profilo di temperatura radialmente e assialmente, con un'elevata risoluzione spaziale e temporale e con una minima perturbazione del flusso o della temperatura. Il multi ingresso a 16 canali è accoppiato con uno spettrometro di massa per fornire una una mappatura della temperatura e delle specie.

Un sistema per la caratterizzazione dei catalizzatori e per misure cinetiche e termodinamiche

Il CATLAB della Hiden è un microreattore da tavolo combinato con uno spettrometro di massa, per una rapida e riproducibile caratterizzazione dei catalizzatori e per lo studio della reazione.

Sistema automatico di analisi delle superfici

Misura la composizione superficiale dei primi nanometri o micrometri di profondità di un campione solido

Il AutoSIMS è un sistema SIMS completo e automatizzato per l'analisi di routine e ripetitiva delle superfici, ideale per le misure di film sottili, contaminazioni e dopaggi dal primo monostrato superficiale fino a molti micron di profondità, in campioni conduttori e isolanti.

Sottocategorie

Analisi dei gas

Analizzatori di gas in tempo reale con il più ampio spettro di campi di applicazione

Catalisi e analisi termica

Microreattori automatizzati e combinati con spettrometro di massa per la ricerca sui catalizzatori

Film sottili, plasmi e ingegneria delle superfici

RGA (analisi dei gas residui),analisi degli ioni del plasma, analisi delle superfici e SIMS (spettrometria di massa di ioni secondari) con rilevamento del prodotto finale

Analisi dei gas residui

Analisi di gas e vapori in camere da vuoto e processi

Analisi di gas disciolti ed elettrochimica