Hiden Analytical

Una sorgente di ioni Argon e Ossigeno a 5 KeV per applicazioni di analisi superficiale in UHV

Sorgente di ioni primari per analisi SIMS/SNMS e per la mappatura delle specie elettropositive

The IG20 features a high brightness electron impact gas ion source which is designed specifically for oxygen capability but is also suitable for use with inert and other gases.

Un cannone per ioni di Cesio a 5 KeV per applicazioni di analisi delle superfici in UHV

Sorgente di ioni primari per analisi SIMS/SNMS e mappatura delle specie elettronegative

The IG20 features a high brightness electron impact gas ion source which is designed specifically for oxygen capability but is also suitable for use with inert and other gases.

Un analizzatore SIMS/SNMS

Quando utilizzato in sistemi SIMS/SNMS, fornisce la composizione superficiale e la mappa degli elementi

L'analizzatore SIMS a quadrupolo della Hiden è un sistema allo stato dell'arte per la spettrometria di massa a ioni secondari per applicazioni su ioni positivi, negativi e per lo studio di sistemi dinamici.

L'analizzatore MAXIM comprende un filtro integrale di energia per gli ioni con un angolo di accettazione di 30° rispetto all'asse della sonda, un'ottica di estrazione SIMS ad alta trasmissione, triplo filtro di massa, rilevatore in grado di contare gli ioni ed elettronica di controllo.

Un sistema UHV di analisi superficiale per la caratterizzazione dei film sottili

Misura la composizione superficiale dei primi pochi nanometri e/o micron di campioni solidi

La Workstation SIMS permette SIMS statico e dinamico ad alte prestazioni per una dettagliata analisi della composizione superficiale e per il profiling in profondità.

Sottocategorie

Analizzatori di gas in tempo reale con il più ampio spettro di campi di applicazione

Microreattori automatizzati e combinati con spettrometro di massa per la ricerca sui catalizzatori

RGA (analisi dei gas residui),analisi degli ioni del plasma, analisi delle superfici e SIMS (spettrometria di massa di ioni secondari) con rilevamento del prodotto finale

Analisi di gas e vapori in camere da vuoto e processi